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課程名稱 |
積體電路系統測試
Vlsi System Testing |
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開課學期 |
101-2 |
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授課對象 |
電機資訊學院 電子工程學研究所 |
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授課教師 |
黃俊郎 |
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課號 |
EEE5011 |
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課程識別碼 |
943 U0110 |
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班次 |
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學分 |
3 |
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全/半年 |
半年 |
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必/選修 |
選修 |
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上課時間 |
星期四6,7,8(13:20~16:20) |
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上課地點 |
博理214 |
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備註 |
總人數上限：30人 |
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Ceiba 課程網頁 |
http://ceiba.ntu.edu.tw/1012SysemTesting |
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課程簡介影片 |
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核心能力關聯 |
核心能力與課程規劃關聯圖 |
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課程大綱
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為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
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課程概述 |
1. VLSI測試概論
2. 錯誤模型與模擬
3. 自動測試圖樣產生技術
4. 內建自我測試
5. 記憶體測試
6. 類比電路測試
7. ADC/DAC測試 |
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課程目標 |
本課程介紹積體電路系統測試之觀念及技術，內容包含可測試性設計（Design-for-Test）、內建自我測試（Built-In Self-Test）、記憶體測試、類比/混模電路測試及系統晶片測試技術，適合對VLSI設計與測試有興趣的同學修習。 |
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課程要求 |
1. 成績評量方式
Homework 20%
Midterm: 35%
Report & presentation: 35%
Attendance: 10%
2. 預修課程:
邏輯電路設計、電子學
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預期每週課後學習時數 |
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Office Hours |
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指定閱讀 |
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參考書目 |
教科書： L.T. Wang, C.W. Wu, and X. Wen, VLSI Test Principles and Architectures, Morgan Kaufmann Publishers, 2006.
參考書目： M.L. Bushnell and V.D. Agrawal, Essentials of Electronic Testing, Kluwer Academic Publishers, 2000.
M. Burns and G. W. Roberts, An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement, Oxford University Press, 2001.
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評量方式
(僅供參考) |
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週次 |
日期 |
單元主題 |
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第1週 |
2/21 |
Introduction |
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第2週 |
2/28 |
和平紀念日 |
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第3週 |
3/07 |
Introduction (cont'd)<br>
Design-for-Test |
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第4週 |
3/14 |
Design-for-Test (cont'd) |
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第5週 |
3/21 |
Built-In Self-Test |
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第6週 |
3/28 |
Built-In Self-Test (cont'd) |
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第7週 |
4/04 |
婦幼節 |
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第8週 |
4/11 |
Built-In Self-Test (cont'd)<br>
Memory Testing |
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第9週 |
4/18 |
Seminar: Challenges and Solutions for Embedded SRAM Design |
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第10週 |
4/25 |
Memory Testing (cont'd) |
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第11週 |
5/02 |
Memory Testing (cont'd) |
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第12週 |
5/09 |
Memory Testing (cont'd) <br>
Coherent Sampling |
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第13週 |
5/16 |
Coherent Sampling (cont'd)<br>
Static ADC/DAC Testing |
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第14週 |
5/23 |
Static ADC/DAC Testing (cont'd) <br>
AMS Testing |
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第15週 |
5/30 |
期中考<br>
ETS |
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第16週 |
6/06 |
DAC |
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第17週 |
6/13 |
AMS Testing<br>
High-Speed I/O Testing |
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第18週 |
6/20 |
期末報告 |
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